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OPTM 系列显微分光膜厚仪报价
OPTM 系列显微分光膜厚仪 测量项目：• 绝*反射率测量• 多层膜解析• 光学常数分析（n：折射率，k：消光系数） 参考价面议 -
半导体参数分析仪价格
半导体参数分析仪型号有Keysight B1500A系列、Keithley 4200系列 参考价面议 -
PNA系列、ENA、PXI VNA网络分析仪品牌
网络分析仪主要特性和功能：· 具有紧凑型频率扩展器的单次扫描解决方案· 可以作为单个产品解决方案一次性购买· 对器件施加精确的调平功率，进行功率扫描· 提供各种应用软件，帮助您进行详细分析 参考价面议 -
S-Fluo系列组合荧光系统品牌
组合荧光系统采用模块化设计，既可实现稳态、瞬态测量，又能实现UV-VIS-MIR的宽范围测 量。组合荧光系统多种部件可供选择（光源、探测器、样品架、变温模块等），能针对研究者实验的不 同需求量身打造为合适的荧光光谱系统。 参考价面议 -
半导体参数分析仪品牌
半导体参数分析仪型号有Keysight B1500A系列、Keithley 4200系列 参考价面议 -
S-Fluo系列国产组合荧光系统报价
组合荧光系统采用模块化设计，既可实现稳态、瞬态测量，又能实现UV-VIS-MIR的宽范围测 量。组合荧光系统多种部件可供选择（光源、探测器、样品架、变温模块等），能针对研究者实验的不 同需求量身打造为合适的荧光光谱系统。 参考价面议 -
OPTM 系列国产显微分光膜厚仪报价
OPTM 系列显微分光膜厚仪 测量项目：• 绝*反射率测量• 多层膜解析• 光学常数分析（n：折射率，k：消光系数） 参考价面议 -
S-Fluo系列国产组合荧光系统价格
组合荧光系统采用模块化设计，既可实现稳态、瞬态测量，又能实现UV-VIS-MIR的宽范围测 量。组合荧光系统多种部件可供选择（光源、探测器、样品架、变温模块等），能针对研究者实验的不 同需求量身打造为合适的荧光光谱系统。 参考价面议 -
国产半导体参数分析仪报价
半导体参数分析仪型号有Keysight B1500A系列、Keithley 4200系列 参考价面议 -
PNA系列、ENA、PXI VNA智能网络分析仪品牌
网络分析仪主要特性和功能：· 具有紧凑型频率扩展器的单次扫描解决方案· 可以作为单个产品解决方案一次性购买· 对器件施加精确的调平功率，进行功率扫描· 提供各种应用软件，帮助您进行详细分析 参考价面议 -
OP-AI系列国产光学平台品牌
OP-AI系列气浮隔振光学平台• 固有频率：＜1.2～2Hz• 重复定位精度：±0.10mm• 台面材料：SUS430高导磁不锈钢• 台面厚度：100/200/250mm• 平面度：≤0.05mm/m2• 台面粗糙度：≤0.8μm，局部可达0.4μm• 气浮支架：双层气室，3个真空管水平调节阀，四或六支撑腿• 台面加支架总高度800mm，总高度可调范围：-20～+20 参考价面议 -
国产半导体参数分析仪价格
半导体参数分析仪型号有Keysight B1500A系列、Keithley 4200系列 参考价面议