万深SC-G自动考种分析及千粒重仪(玉米考种)

SC-G玉米考种万深SC-G自动考种分析及千粒重仪(玉米考种)

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2015-06-12 14:16:27
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产品简介

主要用途:SC-G型自动种子考种分析及千粒重仪系统是根据图像识别原理来实现自动分析的。本配置于玉米籽粒、果穗、截面的精确考种分析(紫黑色玉米的果穗不能测)。内置支持网上在线升级的模块。

详细介绍

SC-G自动考种分析及千粒重仪(玉米考种)

主要用途:SC-G型自动种子考种分析及千粒重仪系统是根据图像识别原理来实现自动分析的。本配置于玉米籽粒、果穗、截面的精确考种分析(紫黑色玉米的果穗不能测)。内置支持网上在线升级的模块。
技术指标
2.1.成像特性:
A3幅面zui高分辨率1600dpi × 1600dpi、紫光M1彩色扫描仪。扫描分析的种粒直径120mm。适用分析工作区尺寸:扫描仪A3幅面(431.8mm×301mm),可同时成像分析10个玉米果穗、35个玉米截面、1000粒左右的玉米籽粒。拍照成像分析为A4幅面。
图像调整:具有图像亮度、对比度、饱和度调整功能,调整值自动记忆保存
图像观察:具有任意放大、缩小、局部观察功能
2.2.籽粒数粒速度、精度:
自动数粒速度:15003000/分钟,数粒误差≤±0.1%-0.4%,监视修正即达*正确。自动测出籽粒数、各籽粒的粒形参数(长、宽、长宽比、面积、等效直径、周长等),以及其平均值。自动千粒重分析的精度误差:≤±0.5%。具有对被分析目标颜色、形状进行自学习和再学习,并实现自动分类的特性。
2.3.果穗、截面分析速度、精度:
同时成像分析玉米果穗:10//分钟、玉米截面:35//2分钟。
自动测出各玉米穗长、穗粗、秃尖长、左右穗缘角、穗行角、平均行粒数、粒厚、截面穗行数、穗粗、轴粗,以及其平均值,可测出各玉米截面上的平均粒长、平均粒宽等参数。
2.4.具有被测样本条码、电子天平RS232重量数据的自动输入接口,电脑插上条码枪即可刷入样本条码编号;电子天平上的被测样本重量数据可一键送到电脑保存为EXCEL表。
2.5.全程电脑控制,高效、准确、简便易用,真正一键式操作,鼠标一点,结果即现。
2.6.辅助删补:用鼠标选择增加/删除,或直接用鼠标在屏上手工计数,以确保*正确目标区的个性化计数:对工作区视野中任选范围或矩形范围内的计数。
2.7.分析数据导出:分析图像结果可保存,自动形成总报表,统计分析结果能输出至Excel
供货配置表(电脑另配)
SC-G型考种及千粒重自动分析软件及《简明手册》光盘 1
软件锁 1
SC-G型考种及千粒重自动分析系统软件质量三包卡 1张(在光盘内)
A3幅面的紫光M1彩色扫描仪 1
USB2.0接口的拍摄仪(彩色500万像素) 1
水晶式背光照明超薄灯箱A4工作台板 1个带
RS232通讯接口的量程300g电子天平(精度1mg 1
RS232接口通讯传输线 1
种粒收纳盘 1

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